產品介紹

　　在半導體器件中，不完整的結晶度往往會導致禁帶隙中的缺陷或陷阱態，這極大地影響了器件的整體光學和電學性能。 由于帶隙中的吸收系數極低，產生的光電流信號也極弱。 因此，需要高度靈敏的檢測系統。

特色

　● 陷阱狀態、缺陷狀態或電荷轉移狀態的直接光譜學證據。

　● 波長范圍：1.1~2.07 eV (600nm~1100nm)；選項：0.70 eV~2.07 eV (600nm~1800nm)。

　● Turn-key解決方案；安裝后產生可靠的光譜數據。節省時間和成本效益（至少1年和2萬美元）。

　● 完整的培訓課程，包括操作和基本背景培訓。

　● 超過 50 篇 SCI 期刊論文證明。

　● 不僅僅是數據采集，還包括能級擬合! 提供CTS和Urbach能級擬合軟件。

系統設計

規格

10^-5%（7 個量級）* FTPS系統的檢測動態可以達到7 個量級，但較低EQE水平由DUT的熱噪聲本身決定。

實證

光焱科技FTPS傅立葉變換光電流光譜儀實證如下：

　● Organic PV INFO 于 2021 年 2 月 18 日報道說，了解并大限度地減少性能損失對于實現更高的 OPV 效率至關重要。 PECT-600 的 FTPS 系統正在幫助研究人員了解 Voc 損失機制的細節。

　● ~18% 有機太陽能電池：Enlitech 的 Voc 損耗分析工具用于開發有機光伏電池的新材料，效率達到了近 18%。

　● ~17% 有機太陽能電池：Enlitech 的外部量子效率被用于Voc損耗計算，并開發了效率近17%的有機太陽能電池。

　● 鈣鈦礦太陽能電池 (Voc=1.16V)：Enlitech 的Voc損失分析技術提供了用Lewis堿抑制非輻射重組損失的證明。過氧化物太陽能電池的Voc值從1.10 V提高到1.16 V。

應用

　● 光電信號測量

　● EQE測試

　● CTSF電賀轉移態能階擬和分析

　● 測試稜利範圍：0.7~2eV，測量波長範圍600~1800nm

　● 電賀轉移態能階Ect、重組能λ、電賀轉移態常數f擬和計算